Gözlem sistemine entegre

Örnek işleme sürecinin tamamını ve hedef alanını mikroskop altında gözlemlemek Örnek koluna sabitleyin, örnek işleme sürecinde stereo mikroskop ile gerçek zamanlı gözlem edilebilir, gözlem açısı 0 ° ile 60 ° arasında ayarlanabilir veya -30 ° kadar ayarlanabilir, mesafe ölçümü gözlük ölçeği ile yapılabilir. Leica EMTXP ayrıca en iyi görsel gözlem için parlak halka LED ışık kaynağı ile birlikte sunulmaktadır.
> Küçük hedef alanların tam konumlanması ve örnek hazırlanması
> Stereo mikroskop ile in situ gözlem
> Çok fonksiyonlu mekanik işleme
> Örnek işleme sürecinin otomatik kontrolü
> Ayna gibi parlatma etkisi elde edilebilir
> LED halka ışık kaynağı parlaklığı ayarlanabilir, 4 bölme seçenekli

Mikro ölçekli örnekleme için

Millimetre ve mikron ölçeklerindeki küçük hedefleri konumlandırmak, kesmek, öğütmek ve parlatmak zorlu bir işlerdir ve ana zorluklar şunlardan kaynaklanmaktadır:
Hedef çok küçük, gözlemlenemez
> Hassas hedef konumlandırma veya hedef açısı kalibrasyonu zor
> Belirlenen hedefe ulaşmak ve cilalamak genellikle çok fazla insan ve zaman alır
Küçük hedefler çok kolay kaybolur
> Örnek boyutu küçük, çalışması zor ve genellikle paket gömülmek zorunda kalır

Entegre Mikro Gözlem ve Görüntüleme Sistemi

Leica M80 Stereo Mikroskopu
> Paralel ışık yolu tasarımı: merkezi ana nesne aracılığıyla paralel ışık yolu oluşturmak, odak düzeyi tutarlı
> Yüksek katlanan çözünürlük: Tüm katlanan oranlar yüksek kaliteli görüntü kalitesi ve istikrarlı ışık gücüne sahiptir
> Ergonomik tasarım: rahat kullanım rahatlığı, kas gerginliği ve yorgunluğu olmadan
Leica IC80 HD HD Kamerası*
> Dikişsiz tasarım: Görüntü tüpü veya fototüp eklenmeden optik kafa ve binocular arasında monte edilir
Yüksek Kaliteli Görüntü: Görüntü Kalitesini ve Yansıtmayan Görüntüleri Mikroskop ile Koeksenli Optik Yolları ile Güvenlendirmek
> Bilgisayarları bağlayan veya koparmak için dinamik yüksek çözünürlüklü görüntüler sağlar
4 Bölüm Parlaklık Ayarlanabilir LED Halka Işık Kaynağı
> Farklı açılı aydınlatma örneklerin küçük ayrıntılarını ortaya koymak

Numuneyi çeşitli yöntemlerle hazırlamak

Örneklerin aktarılması gerekmez, sadece aletleri değiştirin
Örnekleri ileri ve geri taşımak gerekmez, sadece örnekleri işleyen aletleri değiştirmek için örnekleri işleme sürecini tamamlayabilirsiniz ve örnekleri işleme sürecinin tamamı gerçek zamanlı bir mikroskop ile gözlemlenebilir. Güvenlik nedenlerinden dolayı, alet ve örneklerin bulunduğu stüdyoda, örnek işleme sırasında operatörün yanlışlıkla çalışma parçalarına dokunmasını önleyen ve parçaların sıçramasını önleyen şeffaf bir güvenlik kapağı bulunmaktadır.
LEICA EM TXP örnekleri aşağıdaki şekilde işleyebilir:
> Freze
> Kesme
> Öğütme
> Parlama
> Delme